X-射线荧光光谱法测定铁矿石中化学成分

来源 :中国金属学会第十三届分析测试学术年会——冶金及材料分析测试学术报告会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:zf524979
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利用助熔剂,将铁矿石样品在高温下熔融成玻璃圆片,从而消除矿物结构效应,并降低基体效应的影响,研究了熔样的条件和灼烧失量对全铁分析结果的影响,应用经验系数法校正了基体的吸收激励效应,建立了铁矿石的X-射线荧光光谱分析法,测定了铁矿石中TFe,P,SiO2,AlO3,CaO,V2O5,TiO2,MgO等8种常见成分,结果令人满意.
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