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将CCD技术应用于光学自准直仪,在测量范围和测量精度上近年来都取得了极大进展,国外的测量范围达到1200″,测量精度可从0.2″到2″;国内测量范围为600″,精度可达到2″.北京信息科技大学课题组多年来研究基于面阵列CCD光电自准仪,先后完成了光电自准直仪硬件设计和光路仿真的研究,设计和加工了基于面阵CCD的光电自准直仪,并用于数控转台位置精度检测.用于位置精度检测的光电自准直仪既要求有大的测量范围,又要求具有较高的测量精度,并可自动完成测量.为此,设计基于面阵列CCD的光电自准直测量系统对于数控转台的自动检测具有重要意义.