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本文在大量的实验结果基础上,给出了KOH自停止工艺的优化参数.利用KOH自停止腐蚀技术,我们制备了微悬梁,薄膜,薄膜光栅,加速度计等结构,并获得了较满意的均匀性.对Si平面薄膜的测量表明:在1000μm内的扫描范围内,Si平面薄膜的B扩面和腐蚀面的表面粗糙度分别在50nm和22nm左右;SEM测量显示,Si薄的颗粒尺寸在纳米量级.