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本文概述了4f系统相干成像法提出和发展的过程,介绍了用这种方法测量三阶非线性折射率的基本原理:非线性样品被放置在4f系统的频谱面上,利用单脉冲激光入射4f系统,并用CCD记录下出射面上光场的空间分布情况,然后通过数值计算的方法得到样品的三阶非线性折射率.概括了用此方法测量材料非线性的优缺点.并对此方法以后可能需要改进的方向进行了分析.为了验证这个方法的可靠性,我们进行了实际的实验测量,并对实验结果进行了数值拟合.