X射线荧光光谱法测定结晶器保护渣中各组份

来源 :2008年中国机械工程学会年会暨甘肃省学术年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:yysky99
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研究了用XRF融片法测定保护渣中SiO2、CaO、MgO、Al2O3、Fe2O3、Na2O、K2O和F八组分的样片制备方法、试验的分析条件、工作曲线的配制.方法精密度为:(RSD对应元素).优于了相应化学分析检测标准规定的精密度.
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