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脑出血在临床中常见,长期以来CT一直被认为是脑出血首选的检查手段,但随着MR成像设备软硬件技术水平的提高,对脑出血更敏感的序列(如T2*WI、磁敏感加权成像等)不断研发并用于临床,使得MRI对脑出血的诊断能力不断提高。磁敏感技术最早由美国磁共振物理及放射学专家EMark Haacke教授发明,在Siemens机型称为磁敏感加权成像(susceptibility weighted imaging SWI),GE机型称为重T2 star加权血管成像(T2*weighted angiographySWAN)。SWAN序列是检测不同类型脑出血包括微出血的敏感序列。