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本文假设电离层电子密度分布为准抛物段(QPS)模型,利用遗传算法(GA)进行了合成垂直探测电离图电离层电子密度参数反演,反演结果较为理想,反演方法具有一定的稳定性。同时利用实测垂直探测电离图检验了该反演方法的精度与稳定性,并与ARTIST软件结果进行了比较,展示出了该反演方法良好的应用前景。