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本文用直流磁控溅射的方法制备了3个系列含有不同厚度的Co/W的双层膜.用铁磁共振和振动样品磁强计测量了Co/W双层膜的磁学性质.用镜面X射线反射和高角X射线衍射表征了样品的结构.Co层的饱和磁化强度随厚度的增加而增大但比六角结构块材Co的饱和磁化强度小.大的界面粗糙度和核磁共振宽度表明Co/W薄膜中不均匀的Co/W层.