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结合超高真空环境下的原位电子输运及传统电子输运测量手段,我们仔细考查了石墨烯的晶格缺陷对材料输运性能的影响.我们从机械剥离法产生的高质量单晶石墨烯样品出发,在超高真空环境下利用低能(500eV)惰性气体离子轰击石墨烯场效应器件产生晶格缺陷,并在连续超高真空环境下进行零磁场下的原位电子输运表征.