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该文用X射线衍射K值法测定了积尘中游离二氧化硅的含量。选用α—Al[*v2*]O[*v3*]作为冲淡剂,选用α—Al[*v2*]O[*v3*]的(024)晶面和α—SiO[*v2*]的(112)晶面作为欲测晶面,K值为1.18,测试误差<±5℅。对几种积尘进行了测定,并与焦磷酸重量法的测试数据做了比较,结果较为满意。(本刊录)