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采用传统陶瓷烧结方法,制备了CaCu3Ti4O(12-x)Clx(x=0,0.2,0.4,0.6,1)陶瓷样品,利用X 射线衍射仪,测定了材料的物相结构,利用扫描电镜测定了材料的微观形貌,利用阻抗分析仪测定了不同频率下材料的介电常数和介电损耗,研究了Cl 离子对CCTO[1-3]材料的微观结构和介电性能的影响.