【摘 要】
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粒子图像测速技术(PIV)是一种新型的流场测量技术,通过测量被测流场截面上每一位置点的速度,可获得整个被测流场的信息.PIV系统综合了超短脉冲激光技术、数字信号处理技术、
【机 构】
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中国科学院西安光学精密机械研究所,瞬态光学与光子技术国家重点实验室,陕西,西安,710068
【出 处】
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第五届全国夜视技术交流会暨2005年全国瞬态光学与光电子技术交流会
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粒子图像测速技术(PIV)是一种新型的流场测量技术,通过测量被测流场截面上每一位置点的速度,可获得整个被测流场的信息.PIV系统综合了超短脉冲激光技术、数字信号处理技术、芯片技术、计算机技术、图像处理技术等多种新技术,是研究涡流、湍流等复杂的流动结构的有力工具.PIV水流场测试中示踪粒子特性对测量结果影响很大,需要对此进行研究以选择合适的实验粒子.针对PIV离轴测试方式分析了这种测试方式对PIV系统的光学成像系统、示踪粒子选择和粒子图像处理带来影响,实验探讨了采用Scheimpflug离轴聚焦的方法对表面镀银高反射率的示踪粒子进行成像,并利用网格校正板和软件计算处理等方法校正离轴测试带来的影响.实验结果表明该系统能够获得较好的流场测试结果。
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