贮存10年的星用GaAs器件可靠性再评价

来源 :中国电子学会可靠性分会第十一届学术年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:monishibi
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本文报导了对贮存10年的GaAs器件可靠性快速评价的结果,并探讨了在特殊情况下,对超贮存期器件使用的可能性.
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