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红外焦平面由单元探测器，经多元发展而来，探测器的元件数大大增加，并带有读出电路，具有信号获取与信号读出双重功能，其特性的描述增加了许多新的内容，如何评价焦平面器件的性能是焦平面器件研制的关键技术之一。红外焦平面由红外敏感列阵，大规模SI-CMOS信号读出集成电路组成，信号串行输出，测试系统必须提供焦平面工作需要的具有严格逻辑关系的多路时序脉冲和直流偏置、高速、低噪声、大容量的信号与数据处理功能，测试系统涉及半导体光电器件、自动控制、低温致冷、计算机等多学科，要求相当高。