温稠密物质X射线K吸收边的第一性原理计算

来源 :第五届全国高能量密度物理会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:szj188
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X射线测量技术因其优越的穿透性和良好的时间分辨率被认为是测量温稠密物质内部性质的有效手段.近年来,随着测量精度的不断提高,采用X射线吸收谱定量测量温稠密物质内部温度、密度等物理量的技术手段越来越被人们所重视.由于X射线吸收谱只能直接测量物质电子结构的信息、内部热力学量的变化不能直接反映出来,试图采用X射线吸收谱技术对温稠密物质内部热力学量进行测量就必须建立高精度的理论模型将两者的变化连接起来.
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