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@@电荷耦合器件(Charge Coupled Device，CCD)，俗称CCD数字相机，目前已经广泛应用于TEM的图像采集、分析、保存和管理。高质量的数字照片已经对图像的自动分析技术，例如衍射花样分析，三维重构设计等领域均产生了很大推动作用。其中透射电镜的电子衍射在材料分析中具有重要作用，衍射图像中由于透射斑强度往往比衍射斑点高几十倍甚至上百倍，所以要在图像中同时记录高亮度斑点和暗的衍射斑点对
@@B位离子有序特征是影响复合钙钛矿结构微波介质陶瓷性能的关键因素。作者采用透射电子显微镜(TEM)系统研究了B位Ti4+置换对Ca(Mg1/3Ta2/3)03陶瓷B位离子有序的影响，揭示B位不同离子有序的演变规律。
@@碳纳米管的衍射花样与常规晶体材料的单晶电子衍射花样有明显的不同，无论是单壁碳纳米管还是多壁碳纳米管，其电子衍射花样不再具有单一的特征平行四边形特点，而是呈现层线状分布的特征，各主层线间距随碳纳米管螺旋指数的变化而变化。
@@植物根表铁膜的形成与环境、植物生理功能等因素密切相关，因而成为近年来的研究热点。扫描电镜的优势在于可以在原位观察铁膜在植物根表的形态。普通扫描电镜在观察生物样品时需要对样品做脱水处理，有可能导致样品变形；另一方面，对样品表面喷金也可能影响EDS的成分分析结果。环境扫描电镜特殊的二次电子探测器可放大生物样品微弱的二次电子信号，使含水、导电性差的生物样品不需要脱水、喷金等环节直接成像，因而减少了样
@@通过炭纤维表面处理优化C/C复合材料的界面结构，从而改善其使役性能，是高性能c/c复合材料设计和研制的重要思路之一。众多研究结果表明金属Ni对碳氢化合物的裂解具有催化作用，已被广泛应用于纳米炭管和纳米炭纤维的研制和生产；然而，关于C/C复合材料中用Ni催化生成表面纳米相进而改变纤维表面结构的研究工作则少见报道，但受国内外炭科学界的广泛关注，已逐渐成为c/c复合材料领域的研究热点之一。
@@随着材料精细结构的研究需求和相关理论和制造技术的发展，电镜内电子束斑的尺寸越来越小，已经能够实现纳米束斑下的原子尺度表征分析。由于电子束较小的束斑尺寸和可操作性，类似于聚焦离子柬，被看作是一种具有良好发展前景的纳米结构制造技术。其中，电子束诱导沉积(Electron beaminduced deposition，EBID)足近二十年来发展较为迅速的一种聚焦电子柬制造方法，可以实现电镜内纳米结构
@@半个多世纪以前，人们研究含有镀锡层电子器件的失效原因时，发现由镀层生长出的锡晶须由于具有良好的导电性，当其足够长或脱落时会导致电路中两引脚短路、桥连等电路失效，从而引发重大事故。后来人们为了抑制锡晶须的生长，从纯锡镀层发展为锡铅镀层，这在一定程度上抑制了晶须的生长。然而，由于重金属铅具有毒性，近年来各国已相继颁布了相关法令以限制铅在电子产品中的应用。这使得无铅镀层中的晶须生长问题被再次提出，其
@@本文研究的Bi4Ti3012基铁电单晶是用高温溶液法生长的。为减薄制备透射电镜样品，沿b(α) -c面切割单晶，经机械磨抛，凹坑，最后离子减薄。TEM观察在FEI Tecnai G20型透射电镜上进行，加速电压200 kV。
@@近年来，对Ti02超高压(UHP)多形相变及其相应P(压力)-T(温度)条件的研究已成为超高压变质作用的研究热点。金红石(Rutile)是超高压变质岩的重要副矿物。
@@严重塑性变形方法(SPD)可以制备超细晶和纳米晶金属材料，能在不损失甚至提高材料的塑性和韧度的同时大幅度提高材料的室温强度，从而改善材料的综合性能，因而受到人们的广泛关注。严重塑性变形包括等通道角挤压(ECAP)、高压扭转(HPT)和表面机械研磨(SMAT)等等。