【摘 要】
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集成电路在测控领域的应用日益广泛,而测试验证一直是集成电路设计的挑战性问题。总结了功能验证方法的发展方向原则——即形式化原则和抽象化原则。在此基础上,针对目前的功
【机 构】
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合肥工业大学微电子设计研究所,合肥 230009
【出 处】
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第二十届全国测控、计量、仪器仪表学术年会
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集成电路在测控领域的应用日益广泛,而测试验证一直是集成电路设计的挑战性问题。总结了功能验证方法的发展方向原则——即形式化原则和抽象化原则。在此基础上,针对目前的功能验证方法所面临的诸如兼容性等问题,提出并研究了功能验证的工程学问题。给出了功能信息的概念；以功能信息为核心线索,以工程学思想为指导,提出了基于功能信息的验证工程学,研究了基于功能信息的验证工程学过程模型(FIVE模型),并研究了过程中的一些具体方法,包括功能信息的生成、应用,以及工程学中的理论研究、工具方法支持、标准化等问题。最后给出了现有验证方法学向基于功能信息的验证工程学过渡的演化模型。
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