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PID(Potential Induced Degradation系统电压诱导衰减)是一种因组件内部电路和边框之间存在高偏置电压而出现电性能衰减的现象,本文介绍了PID效应及形成机理,依据相关测试标准再现了PID效应,分析组件PID效应的影响因素,提供电池、组件及系统层面的解决方案,从有效性及成本考虑为客户推荐最佳的PID效应解决方案,为业内解决PID效应这一至关重要问题提供一定的参考.