超大尺寸液晶面板蓝mura不良的分析研究

来源 :2014中国平板显示学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户：aklehigh

【摘要】

：

在超大尺寸液晶面板制备过程中,出现一种面板中心区域在高灰阶画面呈现大面积偏蓝(蓝mura)不良.本文利用盒厚测试仪(RETS-4600)、显微镜设备对蓝mura不良进行了分析研究.结果显示,不良区域比正常区域的盒厚小0.2um,不良区域阵列(array)与彩膜(CF)基板之间存在10～25μm的错位.蓝mura不良的直接原因是基板间局部错位,导致面板盒厚不均及像素开口率降低,使得不良区域较正常区域

【作者】

：

于海峰黄海琴崔晓鹏林鸿涛陈维涛邵喜斌

【机构】

：

北京京东方显示技术有限公司,北京,100176

【出处】

：

2014中国平板显示学术会议

【发表日期】

：

2014年4期

【关键词】

：

超大尺寸液晶面板蓝斑不良盒厚测试仪显微镜设备优化设计

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