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空间辐射效应会导致数字信号处理器芯片(DSP)发生单粒子翻转、单粒子闩锁等现象.文章在分析其失效机理的基础上,阐述了DSP功耗测试及片内存储器测试的实现原理,并完成了单粒子效应测试系统的软硬件设计.系统通过对电源电压的调节,可以测试最坏情形下DSP的闩锁截面、片内存储器翻转截面等参数,并通过电流监控避免DSP芯片在试验过程中的损坏.利用该系统进行了脉冲激光和Kr、Bi离子的辐射效应测试,为进一步进行DSP辐射效应的研究提供了必要的试验数据.