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本文提出了一种改进的RT级测试生成方法,这种方法使用基于模拟的遗传算法,在使用基本块和基本块之间依存度概念的基础上对适应适函数(fitness function)作了改进,并在初始群体中增加了基于软件测试产生的个体.电路的描述使用VHDL描述语言.对ITC99部分标准电路的测试生成结果显示了这种方法的有效性.