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本研究在硅衬底上生长了高质量的无裂纹GaN薄膜并制备了多量子阱LED结构,通过把外延层热压焊到另一个硅衬底上并去除生长衬底,实现了外延层的转移,制备了出光面为N型层的垂直结构LED芯片.通过对芯片表面进行粗化处理,大大提高了芯片的发光强度.对制备的硅衬底GaN LED的光电参数和可靠性进行了全面的测量和分析.