【摘 要】
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由于集成电路越来越复杂,集成电路的测试也越来越有挑战性.现今,数百万门级的片上系统设计要求我们有更好的测试方法.嵌入自测试成为我们测试更大更复杂的SOC的一个重要方法.
【机 构】
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沈阳化工学院信息学院,沈阳,110142
【出 处】
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2005年全国测控、计量、仪器仪表学术年会
论文部分内容阅读
由于集成电路越来越复杂,集成电路的测试也越来越有挑战性.现今,数百万门级的片上系统设计要求我们有更好的测试方法.嵌入自测试成为我们测试更大更复杂的SOC的一个重要方法.通过自动测试设备(ATE),嵌入自测试能大大减少芯片的测试成本.本文简单介绍了BIST的概念和使用Synopsys工具进行BIST测试的流程.
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