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目前TD终端温升测试主要是在最大发射功率状态下进行终端温升测试。而智能终端因其硬件构架特点，当前测试难以对应用处理器等部件的温升情况进行测试。本文针对这一情况，构建了一套符合TD智能终端的温升测试构架。在扩充测试项的同时，本文还引入了用户体验这一维度，来为测试构架进行主观参考，因此来提升TD智能终端品质和用户满意度。