【摘 要】
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随着集成电路设计复杂度不断增加，硅前验证已经难以保证没有错误进入硅后芯片之中。而在硅后阶段调试多核处理器芯片，非确定性错误是面临的重大挑战之一。本文针对多核处理器中非确定性错误的调试技术进行综述和深入分析。首先，介绍了多核处理器调试硅后调试技术面临的困难，特别是非确定性错误带来的新挑战；然后，概括介绍了国内外在多核处理器硅后调试特别是针对非确定性错误调试的最新进展，分析了已有方法存在的问题；最后，
【机 构】
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School of Information Science and Engineering, Central South University, Changsha 410083
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随着集成电路设计复杂度不断增加，硅前验证已经难以保证没有错误进入硅后芯片之中。而在硅后阶段调试多核处理器芯片，非确定性错误是面临的重大挑战之一。本文针对多核处理器中非确定性错误的调试技术进行综述和深入分析。首先，介绍了多核处理器调试硅后调试技术面临的困难，特别是非确定性错误带来的新挑战；然后，概括介绍了国内外在多核处理器硅后调试特别是针对非确定性错误调试的最新进展，分析了已有方法存在的问题；最后，对多核处理器中非确定性错误的研究热点和研究趋势进行了分析、展望和总结。
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