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纳米金属薄膜电导率经典尺寸效应对其可见光透射率影响的实验研究
纳米金属薄膜电导率经典尺寸效应对其可见光透射率影响的实验研究
来源 :1998年中国材料研讨会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:gaolch002
【摘 要】
:
测量纳米Al膜和Ti膜的方块电阻,得到直流电导率,利用WFZ900-D4型紫外/可见分光光度计测量可见光透射率,研究纳米金属薄膜电导率经典尺寸效应对其可见光透射率的影响。实验结果表明,电导率经典尺
【作 者】
:
白雪冬
黄荣芳
闻立时
【机 构】
:
科学院金属研究所(沈阳)
【出 处】
:
1998年中国材料研讨会
【发表日期】
:
1998年期
【关键词】
:
纳米金属
薄膜电导率
经典
尺寸效应
可见光透射率
可见分光光度计
直流电导率
光学透射率
方块电阻
测量
紫外
增强
实验
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测量纳米Al膜和Ti膜的方块电阻,得到直流电导率,利用WFZ900-D4型紫外/可见分光光度计测量可见光透射率,研究纳米金属薄膜电导率经典尺寸效应对其可见光透射率的影响。实验结果表明,电导率经典尺寸效应导致光学透射率增强。
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