横向变厚度漂移区SOI LDMOS工艺技术研究

来源 :第十六届全国半导体集成电路硅材料学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:FreshLearn
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本文首先通过求解二维扩散方程,建立了单窗口LOCOS 技术的氧化层轮廓函数模型,然后借助Delta 函数,将任意的氧化层轮廓函数表示为一系列单窗口轮廓函数的组合,并给出了确定窗口位置和窗口宽度的方法,进而基于该方法设计了一种和CMOS 工艺兼容的用于制备变厚度漂移区SOI LDMOS 的方法,TCAD 工具的2D 工艺仿真证实了该工艺方案的可行性和精确性。
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