CPU故障测试

来源 :中国集成电路测试年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户：liulangdetianya

【摘要】

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该文提出的CPU故障测试是指CAD与CAT技术有机地结合在一起组成故障测试系统。根据器件版图布局，由GCAPP软件分析电路的潜在薄弱环节，用t值定时模拟软件LSSP来模拟逻辑冒险与竞

【作者】

：

郑木财

【机构】

：

航天部骊山微电子公司

【出处】

：

中国集成电路测试年会

【发表日期】

：

1986年期

【关键词】

：

故障测试模拟软件软件分析模拟结果测试系统测试图案版图布局子程序故障点触发器测试集组成器件冒险逻辑竞争技术电路

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该文提出的CPU故障测试是指CAD与CAT技术有机地结合在一起组成故障测试系统。根据器件版图布局，由GCAPP软件分析电路的潜在薄弱环节，用t值定时模拟软件LSSP来模拟逻辑冒险与竞争，采用四值故障模拟软件可有效地确定门和触发器级故障，确立可测故障点和测试集，模拟结果生成测试图案子程序。（本刊录）

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