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Studies of optical properties of InGaNGaN layered structure using spectroscopic ellipsometry
【机 构】
:
Laboratoryofoptoelectronicmaterials&detectiontechnology,GuangxiKeyLab.forRelativisticAstrophysics,Co
【出 处】
:
第二届全国偏振与椭偏测量研讨会
【发表日期】
:
2016年11期
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