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本文采用MCNP模拟和实验相结合的方法确定高纯锗探测器的死层厚度及冷指尺寸，建立MCNP探测效率刻度模型。该模型对点源的刻度误差在10％左右，对60Co的1332keVγ射线的刻度误差达到了5.69％。就误差水平而言，刻度模型是正确可靠的，可以用于实验测最。同时也论证了此种确定探测器的死层厚度及冷指尺寸的方法是可行的。