偏压对等离子增强沉积Zr-N薄膜结构及电化学性能的影响

来源 :2004全国荷电粒子源、粒子束学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户:silkji
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本文主要介绍了利用ECR-微波等离子溅射沉积技术不同偏压下在45#钢基体上制备了Zr-N薄膜,并讨论了偏压对薄膜的微观结构和耐蚀性能的影响原因.
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