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近年来，离散事件系统(DES)理论的应用为数模混合电路的测试提供了一种统一、有效的系统化方法，而求取电路的最小测试集一直是该研究领域的重点和难点.本文针对在基于DES理论的电路可测试性研究中测试集最小化问题的具体特点，分析并设计了基于离散粒子群算法的电路测试集最小化方法.该方法采用"速度-位置"模型，通过群体中粒子间的竞争与协作在解空间中进行优化搜索.实验结果验证了它的高效性与实用性，其性能明显优于GASA策略和混沌遗传算法.