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本文采用分子动力学模拟的方法，研究了单轴拉伸的[100]晶向单晶金纳米线在不同缺陷比率和温度下的形变断裂行为。结果表明，缺陷不仅提高了纳米线的机械强度，而且保持了低温条件纳米线的弹性形变。通过每一条件纳米线断裂位置的统计分析，结果说明100 K 下的纳米线形变断裂对缺陷比率为5％的缺陷表现了一定的敏感性，而在300 和500 K 时，缺陷比率是1％。