用XPS法精确测量硅片上超薄氧化硅的厚度

来源 :2005年全国粉体设备-技术-产品信息交流会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:x_men_123
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本文给出了氧化硅厚度的计算公式,讨论了光电子发射角和晶体方位角的选择,介绍了硅片上超薄氧化硅的XPS测量方法。
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