一种专用MCU芯片的可测性设计

来源 :第九届中国集成电路测试学术年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:niqing813
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由于MCU芯片的结构非常复杂, 因此若在设计时采用一般ASIC设计的从结构出发的可测性设计技术(包括DFT和BIST)将使电路的规模大大增加。该文根据MCU具有指令系统的特点,从功能测试的角度出发,提出了一种在MCU设计中加入规模很小的模式选择电路, 对部分电路作较小改动,就使芯片内的各块电路都可被测试的方法。在完成了可测性设计后进行了仿真。
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