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本文针对后处理设备调试中位移传感器发生的干扰现象,根据控制系统的具体情况,分析了可能存在的干扰源,并采取了相应措施,解决了干扰问题。
后处理设备调试中位移传感器的干扰源分析及解决措施
【摘 要】
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本文针对后处理设备调试中位移传感器发生的干扰现象,根据控制系统的具体情况,分析了可能存在的干扰源,并采取了相应措施,解决了干扰问题。
【机 构】
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中国工程物理研究院化工材料研究所
【出 处】
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四川省电子学会传感技术第十届学术年会
【发表日期】
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2007年期
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