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利用FEAMG-CZ软件模拟研究了cusp磁场对称面(定义为0高斯面)与熔体自由表面距离对直拉硅固液界面氧浓度分布的影响。结果表明:随着O高斯面的下移,熔体中的最小氧浓度降低,而固液界面的氧浓度却升高,且径向均匀性变差.分析表明,这与熔体自由表面处的Marangoni流有关,该流动受到抑制,利于熔体中氧的蒸发,从而在自由表面下获得更低氧浓度的熔体,但阻碍了自由表面下方低氧熔体往固液界面的输运.因此推断:当O高斯面位于熔体自由表面下某一位置时,固液界面氧浓度将达到最低(本模拟中位于Hm=0~0.0l1 m之间).