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双向过采样成像探测体制,解决了传统单采样体制下的红外点目标探测难点,有效提高了图像中的目标检测信噪比及降低了虚警,提高了目标检测性能。通过对传统的线列扫描方式和双向过采样扫描系统进行数学建模和系统仿真,证明了在相同条件下,双向过采样体制的检测率均高于常规采样,同时双向过采样体制的虚警率均小于常规采样体制。