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本文介绍用X射线照相法对Gd<,3>Fe<,29-x>M<,x>(M=Ta,W)样品进行物相鉴定,用X射线法以及磁测量数据测定化合物的固溶区,用Rietveld法对结构精修.
Gd,3Fe,29-xM,x(M=Ta,W)化合物的合成及晶体结构
【摘 要】
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本文介绍用X射线照相法对GdFeM(M=Ta,W)样品进行物相鉴定,用X射线法以及磁测量数据测定化合物的固溶区,用Rietveld法对结构精修.
【机 构】
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中国科学院物理研究所(北京)
【出 处】
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第八届全国X射线衍射学术会议
【发表日期】
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2003年10期
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