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该文在收集了１６０００多条国内外标准目录和几万条元器件性能对比的资料以及一万多年条器件失效数据的基础上，将元器件分成１０大类１２５小类７２７种，并对主要元器件的性能测试方法、可靠性试验方法作了深入的分析对比，指出ＣＪＢ、ＧＢ与ＭＩＬ、或ＩＥＣ的异同点；国产电子元器件与国外同类型产品性能上的差异；国产电子元器件的主要失效模式为击穿、表面损伤、参漂、接触不良、引线断裂等。该课题将有关数据资料按专题建立了数据库、数据库采用模块结构，其模糊查询的方法极大地方便了用户，采用编码的方式使数据库易于扩展。