论文部分内容阅读
该文采用实验的方法研究了电子系统内电子元器件核辐射指标的分本。其研究目的是为系统用电子元器件的加固、考核和评估提供更加合理的参考。研究是通过采用晶体管辐射损伤监测顺和S-32中子活化箔监测二个典型电子系统组件盒内印刷电路板上不同位置处的中子注量的分布来确定组件内电子元器件的核辐射分配指标。通过两次中子反应堆辐照实验初步确定了具有不同结构形式的组件内电子元器件的指标分配系灵敏我为0.7～1。