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双正交检波式微波振幅相位测试系统是一种精度高、成本低且使用简便的新型微波幅相测试系统。在Ｘ波段，其振幅测试精度可达０．０４ｄＢ，相位测试精度为０．５度。该系统可广泛应用于空间电磁场的幅一相分布测试、天线方向图测试以及ＲＣＳ测试等众多领域。
双正交微波幅相测试系统
【摘 要】
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双正交检波式微波振幅相位测试系统是一种精度高、成本低且使用简便的新型微波幅相测试系统。在Ｘ波段，其振幅测试精度可达０．０４ｄＢ，相位测试精度为０．５度。该系统可广泛应用于空间电磁场的幅
【机 构】
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航空航天大学
【出 处】
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1997全国微波会议
【发表日期】
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2004年期
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