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<正>近年来光纤光栅在应变测量领域得到了越来越多的关注,尤其在微应变测量方面。本文采用光纤光栅测量平面镜在外力作用下产生的表面形变。光学系统在装调时,光学元件因为自身重力以及外力等因素作用下产生一定的表面应变,影响了光学元件的面型,对整个光学系统的测试精度产生不可估量的影响。采用基于2×2和3×3光纤耦合器构成的非平衡马赫-曾德尔干涉仪实现波长解调,