【摘 要】
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利用热释电晶体实现了一个X射线激发源,并以此激发源和高能量分辨率的硅漂移探测器构建了一个x射线荧光分析谱仪.首先通过分析计算热释电晶体厚度和靶厚度对产生X射线的
【机 构】
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中国科学院高能物理研究所,北京100049
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利用热释电晶体实现了一个X射线激发源,并以此激发源和高能量分辨率的硅漂移探测器构建了一个x射线荧光分析谱仪.首先通过分析计算热释电晶体厚度和靶厚度对产生X射线的影响选定了激发源的设计参数；然后测量了激发源发射的x射线本底,其能量范围在1keV到27keV,包含有Cu和Ta的特征x射线,最大强度在每秒3000个计数以上,对本底的测量同时显示出谱仪的探测器部分对Cu的8.05keV特征峰的分辨率达到210eV,具有很高的能量分辨率；最后使用该谱仪测试了Fe、Ti和Cr等三种单质样品和高钛玄武岩样品,测试结果表明该谱仪可以有效的分析出样品的元素成分.由于这种X射线荧光分析谱仪的各组成部分体积都很小,进一步便携化后非常适合于非破坏、现场和快速的元素分析场合.
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