利用基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱法快速表征系列芳香环状低聚物

来源 :中国物理学会第六届质谱分会会员代表大会暨学术报告会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:zhongxinghai
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
本文报道了应用基质辅助激光解吸电离飞行时间质谱法成功地对系列芳香环状低聚物进行了分析测定,获得了满意的结果.
其他文献
介绍一种基于客户器/服务器(C/S)结构的飞行任务规划数据管理系统。它能按对象,很好地组织空间数据,提供高效率操作的数据库接口,允许大量用户同时操作同一数据,在遵守同一网络协议的条
TOF-SIMS提供了一个探测和分析微芯片键合点上有机沾污的有力手段。分析比较了两个集成电路芯片上钻键合点的TOF-SIMS二次离子谱,其中一个芯片经目检发现其键合点在工艺流程中被沾污,而另一个是