论文部分内容阅读
本文介绍了一种新的测量三阶非线性折射率的方法—4f系统相干成像法。其基本原理为：非线性样品被放置在4f系统的频谱面上，利用单脉冲激光入射4f系统，并用CCD记录下出射面上光场的空间分布情况，然后通过数值计算的方法得到样品的三阶非线性折射率．这个实验方法具有单脉冲测量，光路简单、没有样品的移动、对激光束的随机波动敏感度低、测量精确、不易损伤样品等优点。