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以纳米碳酸钙粒子作为测量对象,分别采用X射线衍射法(XRD)、透射电子显微镜法(TEM)以及原子力显微镜法(AFM)测量其粒径,结果表明：X射线衍射法测量的纳米粒子粒径可能小于纳米粒子实际平均粒径,透射电子显微镜法和原子力显微镜法测量的纳米粒子粒径可能大于纳米粒子实际平均粒径。分析探讨了三种方法的应用领域、测量范围、优缺点等。