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采用低压金属有机物化学气相沉积设备在GaAs衬底上生长了GaxIn1-xP(x=0.52-0.22)渐变过渡层及其上的In0.3Ga0.7As外延层,并用高分辨X 射线衍射仪和透射电镜对过渡层进行了表征.实验表明,高温生长GaInP 过渡层应力基本释放并呈现各向异性,同时由于高的位错滑移速度和大量位错钉扎中心的存在,导致大量的穿透位错到达顶层In0.3Ga0.7As.低温生长GaInP过渡层在应力释放达到90%以上的同时可以有效地抑制穿透位错向In0.3Ga0.7As 层的延伸,从而获得满足器件要求的过渡层材料.