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采用电子顺磁共振（Electron Paramagnetic Resonance，EPR）研究了稀土氧化物La2O3含量与玻璃中 V4+/V 总浓度变化的关1系；随着La2O3含量的增加，V4+/V总浓度逐渐降低，一方面提高了玻璃的体积电阻率和表面电阻率，由1.05×107Ωcm和6.80×107Ω分别增加至5.78×1010Ωcm和1.65×1011Ω另一方面减少了钒氧化物离子中最稳定存在形式VO2+离子的含量，使玻璃的转变温度大幅降低，由307.4℃降至280.3℃，封接温度也成功降至450℃以下。电阻率的增加和封接温度的降低，使钒磷系玻璃成为电子元器件封接用低熔点玻璃的最佳选择之一。