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大豆镰孢根腐病是由多种镰孢菌引起的以导致根部和茎基部腐烂为主要症状的病害的通称。本研究基于环介导等温扩增(Loop-mediated isothermal amplification,LAMP)技术,以CYP51C 为靶标基因,通过设计LAMP 特异性引物,建立直接从发病大豆植株上检测黄色镰孢菌(Fusarium culmorum)并诊断大豆镰孢根腐病的LAMP 检测技术体系(CYP51C-Fc-LAMP)。